纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测

内容简介

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设计方法和工艺技术的革新使得集成电路的复杂度持续增加。现代集成电路（ic）的高复杂度和纳米尺度特征极易使其在制造过程中产生缺陷，同时也会引发性能和质量问题。本书包含了测试领域的许多常见问题，比如制程偏移、供电噪声、串扰、电阻性开路/电桥以及面向制造的设计（dfm）相关的规则违例等。本书也旨在讲述小延迟缺陷（sdd）的测试方法，由于sdd能够引起电路中的关键路径和非关键路径的瞬间时序失效，对其的研究和筛选测试方案的提出具有重大的意义。

本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成（atpg）；第2部分介绍全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测sdd；第3部分介绍了一种sdd测试的替代方案，可以在atpg和基于电路拓扑的解决方案之间进行折衷；第4部分介绍了sdd的测试标准，以量化的指标来评估sdd覆盖率。本书内容由简入深，对sdd测试全面展开，有助于提高读者的理解和掌握。

本书结合了高校科研人员、电子设计自动化（eda）工具研发人员以及电路设计人员三方视角进行编写，是一部针对sdd测试进行多角度全方位分析的书籍。本书适合从事微电子领域芯片测试相关专业的工程师、微电子专业高校师生和研究人员以及对芯片测试领域感兴趣的读者阅读。对于当今工业设计、sdd测试领域的研究挑战以及当今sdd解决方案的发展方向，本书都可作为一站式参考书。

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目录

译者序原书前言关于主编作者名单第1章小延迟缺陷测试的基本原理1.1简介1.2半导体制造中的趋势和挑战1.2.1制程复杂度1.2.2工艺参数变化1.2.3随机性与系统性缺陷1.2.4功耗和时序优化的含义1.2.5良率、质量和故障覆盖率的相互作用1.3已有测试方法与更小几何尺寸的挑战1.3.1连线固定型故障模型1.3.2桥接型故障模型1.3.3n检测1.3.4过渡故障模型1.3.5路径延迟故障模型1.3.6测试实现和适应性测试1.4小延迟对过渡测试的影响参考文献第1部分时序敏感atpg第2章k*长路径2.1简介2.2组合电路的路径生成2.2.1精炼的隐含的假路径消除2.3组合电路的实验结果2.4扩展成时序电路的基于扫描的全速测试2.5扫描电路的路径生成2.5.1扫描式触发器上的含义2.5.2非扫描式存储上的约束2.5.3*终辩护2.6扫描电路的实验结果2.6.1健壮测试2.6.2与过渡故障测试的对比2.7小结参考文献第3章时序敏感atpg3.1简介3.2延迟计算和质量度量3.2.1延迟计算3.2.2延迟测试质量度量3.3确定性测试生成3.3.1包含时序信息的测试生成3.3.2包含时序信息的故障仿真3.4测试质量和测试成本之间的折衷3.4.1基于余量裕度的舍弃3.4.2时序关键故障3.5实验结果参考文献第2部分超速第4章筛选小延迟缺陷的超速测试4.1简介4.2设计实现4.3测试模式延迟分析4.3.1在功能性速度下的动态电压降分析4.3.2针对超速测试的动态电压降分析4.4超速测试技术敏感的电压降4.4.1模式分组4.4.2性能降低δt′gi的估算4.5实验结果4.6小结4.7致谢参考文献第5章考虑版图、工艺偏差和串扰的电路路径分级5.1简介5.1.1sdd检测的商业方法5.1.2sdd检测的学术建议5.2分析因偏差引起的sdd5.2.1工艺偏差对路径延迟的影响5.2.2串扰对路径延迟的影响5.3tdf模式评估与选择5.3.1路径pdf分析5.3.2模式选择5.4实验结果与分析5.4.1模式选择效率的分析5.4.2模式集分析5.4.3长路径阈值分析5.4.4cpu运行时间分析5.5小结5.6致谢参考文献第3部分替 代 方 案第6章基于输出偏差的sdd测试6.1简介6.2替代方案的必要性6.3sdd的概率性延迟故障模型以及输出偏差6.3.1输出偏差的方法6.3.2对工业电路的实用层面以及适用性6.3.3与基于ssta的技术的比较6.4仿真结果6.4.1实验设置和标准6.4.2仿真结果6.4.3原始的方法与改进后的方法的比较6.5小结6.6致谢参考文献第7章小延迟缺陷的混合/补充测试模式生成方案7.1简介7.2时序敏感atpg的故障集7.3小延迟缺陷模式生成7.3.1方法1：tdf+补充sdd7.3.2方法2：补充sdd+补充tdf7.4实验结果7.5小结参考文献第8章针对小延迟缺陷的基于电路拓扑的测试模式生成8.1简介8.2基于电路拓扑的故障选择8.3sdd模式生成8.4实验结果与分析8.4.1延迟测试覆盖率8.4.2唯一长路径的数量8.4.3*长路径的长度8.4.4唯一sdd的数量8.4.5随机故障注入与检测8.5小结参考文献第4部分sdd的测量标准第9章小延迟缺陷覆盖率的测量标准9.1覆盖率测量标准的作用9.2现有指标的概述9.2.1延迟测试覆盖率指标9.2.2统计型延迟质量等级指标9.3所提出的sdd测试覆盖率指标9.3.1二次sdd测试覆盖率指标9.3.2超速测试9.4实验结果9.4.1对系统频率的敏感性9.4.2对缺陷分布的敏感性9.4.3时序敏感与超速的对比9.5小结参考文献第10章总结参考文献

封面

书名:纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测

作者:戈埃尔

页数:191

定价:¥59.9

出版社:机械工业出版社

出版日期:2016-01-01

ISBN:9787111521846

PDF电子书大小:153MB 高清扫描完整版