嵌入式RAM的优化设计及前后端关键技术研究

内容简介

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本书以实际项目为基础, 结合作者对数字集成电路的理解, 主要针对嵌入式RAM的前端优化设计及后端关键技术进行分析讲解。本书共九章, 主要内容是嵌入式RAM的高成品率优化设计、低功耗优化设计及芯片工艺封装技术。文中优化方法应用于项目开发中, 已成功流片, 并通过了测试。

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封面

书名:嵌入式RAM的优化设计及前后端关键技术研究

作者:周清军著

页数:0

定价:¥40.0

出版社:西北工业大学出版社

出版日期:2016-07-01

ISBN:9787561249468

PDF电子书大小:62MB