软件缺陷模式与测试

封面

书名:软件缺陷模式与测试

作者:宫云战

页数:276

定价:¥56.0

出版社:科学出版社

出版日期:2011-07-01

ISBN:9787030317261

PDF电子书大小:105MB 高清扫描完整版

---

---