精密激光测量技术与系统

内容简介

[

本书介绍了几种典型精密激光测量技术的基本原理、关键技术、系统组成与工作特性, 并将基本测量原理、典型商用仪器、被测对象特性和实际应用环境联系起来。

]

目录

前言第1章 激光基本原理及典型器件1．1 激光的基本原理1．1．1 黑体辐射普朗克公式1．1．2 光与物质的共振相互作用1．1．3 粒子数反转与光放大1．1．4 激光介质增益系数与增益曲线1．1．5 光的自激振荡和振荡条件1．1．6 光学谐振腔与激光模式选择1．1．7 基模高斯光束及其特性1．1．8 激光的基本特性1．2 常用激光器1．2．1 激光器的基本结构1．2．2 固体激光器1．2．3 气体激光器1．2．4 半导体激光器1．3 典型的激光器件1．3．1 分光镜1．3．2 偏振分光镜1．3．3 波片1．3．4 角锥棱镜1．3．5 激光准直镜1．3．6 光隔离器1．3．7 衍射光栅1．3．8 声光调制器1．3．9 电光调制器第2章 激光干涉测量技术与系统2．1 激光干涉测量基本原理与系统组成2．1．1 光波的叠加及干涉现象2．1．2 激光干涉测量原理2．1．3 激光干涉测量系统与典型仪器2．2 激光干涉测量中的关键技术2．2．1 激光稳频技术2．2．2 双频激光生成技术2．2．3 干涉信号相位测量技术2．2．4 空气折射率测量技术2．3 激光干涉仪的典型应用2．3．1 作为独立测量仪器的典型应用2．3．2 作为嵌入式测量部件的典型应用2．4 激光干涉测量系统的测量误差2．4．1 激光干涉仪内在的原理误差2．4．2 环境因素相关测量误差2．4．3 安装不当引入的测量误差2．4．4 典型系统测量误差综合分析2．5 新一代激光干涉测量面临的挑战与发展趋势第3章 激光测距技术与系统3．1 脉冲激光测距原理及关键技术3．1．1 脉冲激光测距原理3．1．2 关键技术分析3．2 相位激光测距原理及关键技术3．2．1 相位激光测距原理3．2．2 多测尺相位激光测距方法3．2．3 相位激光测距关键技术3．3 多波长（合成波长）干涉测量3．3．1 多波长干涉测量原理3．3．2 多波长干涉测量关键技术3．4 激光调频、扫频干涉测距原理及关键技术3．4．1 调频干涉测量技术3．4．2 三光束调频干涉测量技术3．4．3 半导体正弦调频连续波测量技术3．4．4 调频干涉测量关键技术3．4．5 波长扫描干涉测量技术3．5 基于飞秒激光频率梳的绝对距离测量方法3．5．1 飞秒激光光源技术3．5．2 频率梳齿间干涉相位测距法3．5．3 脉冲飞行时间与互相关干涉联合测距法3．5．4 双光学频率梳的飞行时间与互相关干涉条纹辨析测距法3．5．5 频率梳光谱分辨干涉测距法3．5．6 飞行时间法、多波长干涉与光谱分辨干涉法组合测量方法3．5．7 参考光学频率梳的多波长干涉测距法第4章 激光光栅测量技术与系统4．1 黑白光栅测量原理及关键技术4．1．1 光栅测量的基本原理和概念4．1．2 莫尔条纹的几何光学原理4．1．3 莫尔条纹的衍射原理4．2 基于莫尔条纹的光栅光学系统4．2．1 单光栅光学系统4．2．2 双光栅光学系统4．2．3 三光栅光学系统4．3 基于衍射光栅干涉原理的位移测量技术4．3．1 基于傅里叶光学的光栅衍射特性分析4．3．2 光栅的多普勒频移4．3．3 单衍射光栅位移测量技术4．3．4 双平行光栅干涉式测量技术4．3．5 两垂直光栅——迈克耳孙式光栅干涉测量技术4．3．6 可增大垂向测量范围的光栅自准直技术4．3．7 双频激光光栅干涉测量技术4．3．8 多自由度测量技术4．4 光栅测量系统的误差分析4．4．1 光栅测量系统的光电转换与电学细分技术4．4．2 光栅测量系统主要误差源第5章 激光共焦测量技术与系统5．1 激光共焦测量基本原理5．1．1 菲涅耳衍射理论5．1．2 薄透镜的三维点扩散函数5．1．3 共焦显微三维成像技术5．2 激光共焦测量中的关键技术5．2．1 共焦显微测量扫描技术5．2．2 共焦显微测量分辨力5．3 共焦显微测量典型技术5．3．1 轴向差动共焦显微测量技术5．3．2 横向光瞳滤波共焦显微测量技术第6章 激光自准直技术与系统6．1 激光自准直基本原理6．1．1 激光自准直理想模型6．1．2 激光自准直通用模型6．2 光束的漂移及抑制6．2．1 光束质量的影响因素6．2．2 光束漂移形式6．2．3 光束漂移分离检测方法6．3 典型自准直系统的分辨力影响因素6．3．1 影响分辨力的因素6．3．2 分辨力提高形式参考文献

封面

书名:精密激光测量技术与系统

作者:胡鹏程[等]编著

页数:0

定价:¥98.0

出版社:科学出版社

出版日期:2015-10-01

ISBN:9787030460141

PDF电子书大小:32MB 高清扫描完整版