纳米力学测试新方法-扫描探针声学显微术

本书特色

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本书从AFAM的力学基础－接触力学出发，阐述了AFAM的原理和基础、准确度和灵敏度、粘弹性成像，以及AFAM的广泛应用。此外，还对正在兴起的多频原子力显微术进行了介绍。本书的内容安排如下：*章绪论简要介绍当前主要的纳米力学测试方法，以及AFAM的发展历史和研究现状。第二章首先对接触力学的基本理论进行介绍，随后介绍纳米压痕技术的测试原理和应用。第三章详细介绍原子力显微镜的基本原理和应用模式。第四章详细介绍AFAM的基本理论，定量化原理及两种基本成像模式。第五章给出了AFAM在测试和成像过程中涉及到的准确度和灵敏度问题，是对AFAM的深入研究。第六章介绍基于AFAM的材料粘弹性力学性能测试方法的原理及应用。第七章介绍AFAM在纳米科学技术各个领域的应用，主要涉及复合材料、智能材料和生物材料的微结构和微区弹性性质。第八章将介绍目前正在兴起的另一种纳米测试技术-多频原子力显微成像技术。

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封面

书名:纳米力学测试新方法-扫描探针声学显微术

作者:李法新

页数:185

定价:¥78.0

出版社:科学出版社

出版日期:2017-03-01

ISBN:9787030515766

PDF电子书大小:127MB 高清扫描完整版