高灵敏及高分辨KPFM及其相关技术

本书特色

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本专著主要面向高分辨的扫描探针显微技术，重点是原子力显微镜、开尔文探针力显微镜（KPFM）关键技术及典型应用领域，解决KPFM在测量过程中的耦合，提高系统的检测灵敏度，实现材料原子级高精度与高可靠性测量，为扫描探针技术在精密测量物理领域的基本常数高精度测量提供更为精准的工具和方法。

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内容简介

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本书介绍了AFM、KPFM及其相关技术的原理、成像特点以及应用范围; 重点介绍了常温低温AFM、KPFM等仪器关键技术及搭建难点, 及运用上述仪器取得的典型成果; 并介绍了极端环境 (超低温、超高真空) 下AFM在氧化物表面的探针修饰、原子识别技术成果; 针对在KPFM测量过程中出现的杂散电容效应及幻影力作用, 提出了抑制上述两种效应的外差调幅KPFM、无反馈KPFM方法, 并给出了这两种方法的原理及实验效果。

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作者简介

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　　马宗敏，教授，主要从事超高分辨精密测量 、固态量子传感等方向的研究工作。提出了铁磁共振磁交换力显微镜方法，建立了基于塞曼分裂的铁磁共振磁交换力显微系统模型，自主搭建了基于超高真空原子力显微镜的磁信息测量平台，得到了典型磁性材料的高分辨成像。提出了外差调幅开尔文力探针显微方法，建立了基于该方法的理论模型，同时从理论和实验上将AM-KPFM的杂散电容降低了90%以上，灵敏度比调频开尔文力探针显微提高了2～3倍。提出了基于金刚石氮空位色心（NV center）的固态磁传感器、陀螺仪方法与技术，完成了灵敏度较高的原子磁强计样机研制。近年来，作为负责人主持国家科技部重点研发计划课题、国家自然科学基金委员会面上基金、国家国防科技工业局国防基础　　科研等项目。发表SCI论文30余篇。

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目录

Chapter 1 Introduction1．1 Preface1．1．2 Surface Charge1．1．4 Artifact Induced in The KPFM1．3 0utlineChapter 2 Theory of Noncontact Atomic-Force Microscopy2．1 Preface2．2 Atomic-Force Microscopy2．2．4 Principle of The Cantilever2．3 Applications of SPM in Micro Measurements/Nano2．3．2 Microelectronics/Nanoelectronics2．3．4 Manipulation and SpectroscopyChapter 3 Kelvin Probe Force Microscopy3．2 Amplitude Modulation and Frequency Modulation3．3 Minimum Detectable Contact Potential Difference in AM-and FM-KPFMs3．4 KPFM in Electrostatic Force Measurements3．5 ConclusionChapter 4 NC-AFM/KPFM Equipment4．1 Preface4．3．2 Fiber and Sample Approach Stages4．3．3 Tube Scanner4．3．4 Cantilever and Sample Holders4．3．5 Vibration Isolation System4．4．1 0ptical Interference Theory4．4．2 Interferometer Detection4．5 W-Sputteringlnstrument……Chapter 5 Atomic Resolution on Cu(ll0)-0 Surface with NC-AFMChapter 6 Clarification of Stray Capacitance Effect with Heterodyne-AM KPFM(HAM-KPEM) at Atomic ResolutionChapter 7 Phantom Force Elimination Using FM-KPFM withoutFeedback at Atomic ResolutionAppendix ⅠAppendix Ⅱ

封面

书名:高灵敏及高分辨KPFM及其相关技术

作者:马宗敏著

页数:219页

定价:¥89.0

出版社:清华大学出版社

出版日期:2019-12-01

ISBN:9787302539537

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